prikaz prve stranice dokumenta Utjecaj energije elektrona na svojstva slike dobivene pretražnim elektronskim mikroskopom
Access restricted to students and staff of home institution
undergraduate thesis
Utjecaj energije elektrona na svojstva slike dobivene pretražnim elektronskim mikroskopom
2015. urn:nbn:hr:166:732083
Puljas, Ana
University of Split
Faculty of Science
Department of Physics

Cite this document

Puljas, A. (2015). Utjecaj energije elektrona na svojstva slike dobivene pretražnim elektronskim mikroskopom (Undergraduate thesis). Split: University of Split, Faculty of Science. Retrieved from https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:166:732083

Puljas, Ana. "Utjecaj energije elektrona na svojstva slike dobivene pretražnim elektronskim mikroskopom." Undergraduate thesis, University of Split, Faculty of Science, 2015. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:166:732083

Puljas, Ana. "Utjecaj energije elektrona na svojstva slike dobivene pretražnim elektronskim mikroskopom." Undergraduate thesis, University of Split, Faculty of Science, 2015. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:166:732083

Puljas, A. (2015). 'Utjecaj energije elektrona na svojstva slike dobivene pretražnim elektronskim mikroskopom', Undergraduate thesis, University of Split, Faculty of Science, accessed 28 February 2025, https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:166:732083

Puljas A. Utjecaj energije elektrona na svojstva slike dobivene pretražnim elektronskim mikroskopom [Undergraduate thesis]. Split: University of Split, Faculty of Science; 2015 [cited 2025 February 28] Available at: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:166:732083

A. Puljas, "Utjecaj energije elektrona na svojstva slike dobivene pretražnim elektronskim mikroskopom", Undergraduate thesis, University of Split, Faculty of Science, Split, 2015. Available at: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:166:732083

Please login to the repository to save this object to your list.
Metadata
TitleUtjecaj energije elektrona na svojstva slike dobivene pretražnim elektronskim mikroskopom
Title (english)Correlation between the incident electron and image quality obtained by the scanning electron microscopy
AuthorAna Puljas
MentorAnte Bilušić (mentor)
Committee memberAnte Bilušić (predsjednik povjerenstva)
Committee memberŽeljana Bonačić Lošić (član povjerenstva)
Committee memberNada Ilić (član povjerenstva)
GranterUniversity of Split
Faculty of Science
(Department of Physics)
Split
Defense date and country2015-09-08, Croatia
Scientific / art field,
discipline and subdiscipline		NATURAL SCIENCES
Physics
Abstract
Pretražni elektronski mikroskop ili skenirajući elektronski mikroskop (engl. Scanning Electrone Microscope – SEM) služi nam za skeniranje i prikaz površine uzorka od interesa. Po svojim specifikacijama prednjači nad optičkim mikroskopom i njegova primjena je sve raširenija. Izvor elektrona, leće i uzorak moraju biti pod vakuumom. Uzorci moraju biti vodljivi, da se ne bi električki nabili. SEM snopom elektrona, koji nastaje u elektronskom topu, skenira površinu... More uzorka pomoću skenirajućih zavojnica. Snop prethodno fokusira niz magnetskih leća. Snop prodire u uzorak, te se rasprši i sudara sa elektronima ili jezgrom atoma uzorka. Kao posljedica toga emitiraju se različiti signali, kao što su sekundarni elektroni i unazad raspršeni elektroni. Njih detektira detektor, a sliku vidimo na zaslonu, što može biti monitor računala. Sekundarni elektroni su elektroni niske energije koji se emitiraju blizu površine uzorka. Time su pogodni za prikaz same površine uzorka. Unazad raspršeni elektroni su elektroni visokih energija te njima možemo dobiti informacije iz veće dubine uzorka. Pogodni su i za promatranje kemijskog sastava uzorka. Za svrhe ovog završnog rada, služila sam se SEM-om iz laboratorija Odjela za fiziku PMF-a (Split, Hrvatska). Kao uzorak za proučavanje koristila sam mikrosfere. Cilj je bio eksperimentalno na primjerima prikazati i interpretirati utjecaj energije elektrona na dobivenu sliku. Energija elektrona mijenja se s naponom ubrzanja elektrona. Korištena su dva načina prikaza: SEI (engl. Second Electron Image) i BEI (engl. Backscattered Electron Image). Kako povećavamo napon, sve je teže prikazati finu strukturu površine uzorka i veća je mogućnost nabijanja i oštećenja uzorka. Nadam se da će ovaj rad čitatelju omogućiti bolje shvaćanje rada SEM-a i utjecaja nekih čimbenika na dobivanje slike, i to poglavito napona ubrzanja, jer je uzet kao tema rada. Također, nadam se da sam uspjela kvalitetno i razumljivo prenijeti stečeno znanje. Less
Keywords
Languagecroatian
URN:NBNurn:nbn:hr:166:732083
Study programmeTitle: Physics
Study programme type: university
Study level: undergraduate
Academic / professional title: sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike (sveučilišni/a prvostupnik/prvostupnica (baccalaureus/baccalaurea) fizike)
Type of resourceText
File originBorn digital
Access conditionsAccess restricted to students and staff of home institution
Terms of useLicence In copyright icon
Public noteKljučne riječi unio urednik.
Created on2017-06-02 14:44:40
accessibility

closeAccessibilityrefresh

If you wish to permanently save changes, click on Save, if not - your settings will be reset when you restart the browser.